- 반도체 장비의 EtherCAT 표준과 장치 프로파일 구조를 정리하고, 실제 개발·검증 과정의 한계를 분석한다.
- 통신 명세와 C/C++ 제어 프로그램을 연결하여 구현 오류와 변경 영향을 자동으로 추적하는 방법을 개발한다.
- 이후 SBOM, CVE, CWE, NIST 보안통제를 연결해 임베디드 소프트웨어의 보안 영향 분석으로 확장한다.
- 최종적으로 통신·제어·보안 정보를 하나의 흐름으로 연결하는 반도체 장비 소프트웨어 분석 체계를 구축한다.
논문 목록
| 논문 | 목표 | 등급 |
|---|---|---|
| 1 | 반도체 EtherCAT의 표준 구조와 장치 프로파일 변화 정리 | KCI |
| 2 | 실제 EtherCAT 제품 개발과 검증도구가 어디까지 책임지는지 실증 | SCI(E) |
| 3 | 통신 명세와 실제 제어코드의 오류 및 변경 영향을 자동 분석 | SCI(E) |
| 4 | SBOM 도구 차이가 CVE–NIST 보안통제 연결에 미치는 영향 분석 | KCI |
| 5 | 취약점을 실제 반도체 장비 기능까지 추적하고 NIST 통제와 연결 | SCI(E) |
| 논문 | 이 논문이 답하는 질문 |
|---|---|
| 1 | 반도체 장비용 EtherCAT 표준은 어떻게 구성되고 발전해 왔는가? |
| 2 | 현재 EtherCAT 개발·검증 체계는 어디까지 오류를 잡아주는가? |
| 3 | 그 체계가 못 잡는 코드 수준 오류와 변경 영향을 어떻게 자동으로 찾을 것인가? |
| 4 | SBOM의 오류가 CVE와 보안통제 판단까지 얼마나 전파되는가? |
| 5 | 발견된 취약점은 실제 반도체 장비의 어떤 기능과 연결되는가? |